GJB 5938-2007 军用电子装备测试程序集通用要求
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ID： |
9B6B1016378746CE81C725560C868379 |
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0.55 |
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11 |
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日期： |
2024-7-14 |
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中华人民共和国国家军用标准,FL 1200 GJB 5938-2007,军用电子装备测试程序集通用要求,General requirement of test program set,for military electronic equipment,2007-03-02 发布2007-07-01 实施,中国人民解放军总装备部批准,GJB 5938-2007,刖 百,本标准由中国人民解放军总参谋部通信部提出,本标准起草单位：中国船舶重工集团公司测控技术部、总参第六十一研究所,本标准主要起草人：陈护勋、杜里、周天、邢千里、余强、曹伟洲〕,I,GJB 5938-2007,军用电子装备测试程序集通用要求,1范围,本标准规定了军用电子装备测试程序集(以下简称测试程序集)的通用要求,本标准适用于军用电子装备测试程序集的开发和订购,2引用文件,下列文件中的有关条款通过引用而成为本标准的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修,改单(不包含勘误的内容)或修订版本都不适用于本标准，但提倡使用本标准的各方探讨使用其最新版本,的可能性.凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本标准.,GJB 451A-2005可靠性维修性保障性术语,GJB 3385-1998测试与诊断术语,GJB/Z 102-1997软件可靠性和安全性设计准则,3术语和定义,3J术语和定义,GJB 451A-2005与GJB 3385-1998确立的以及下列术语和定义适用于本标准『,3.1.1 被测试单元 unit under test (UUT),被测试的电子装备或其组成部分，如分系统、设备、组件、部件、元器件等,3.1.2 故障 fault,UUT不能执行规定的功能或性能的状态,3.1.3 测试 test,按照规定的程序确定UUT的一种或多种特性的技术操作,3. 1.4 检测测试 detection test,确定UUT功能性能，发现其是否存在故障的测试。只对UUT执行检测测试的测试称为通过/不通,过(go/nogo)测试 °,3 J. 5 诊断测试 diagnostic test,对UUT故障进行隔离，将故障定位到UUT内可更换单元的测试,3. 1.6 可更换单元 replaceable unit,在规定的维修级别上从UUT上可拆卸并更换的单元。在基层级(工作现场)可更换的单元称为现场,可更换单元(LRU),通常为设备或部件(有时也可是电路板)；在中继级(车间)可更换的单元称为车间可,更换单元(SRU),通常为电路板(有时也可是元器件)；在基地级(车间)可更换的单元称为车间可更换子,单元(SSRU),通常为元器件口,3,1.7 自动测试设备 automatic test equipment (ATE),能应用测试程序集(TPS)自动对UUT进行检测测试和/或诊断测试的设备,3. 1.8 自动测试系统 automatic test system (ATS),自动测试系统(ATS)是军用电子装备的保障装备，它包含自动测试设备(ATE)和被保障装备的测试,程序集(TPS),3. k 9 功能测试 functional test,检验UUT功能是否正常的测试.,GJB 5938-2007,3. 1. 10 性能测试 performance test,检验UUT性能指标是否满足要求的测试,3.1.11 测试精度比 test accuracy ratio (TAR),UUT要求的激励/测量精度与ATE提供的激励/测量精度之比。例如，如果UUT要求的输出精度为,5%，ATE/TPS提供的测量精度为0.01%,则测试精度比为5000,3.1.12 机内测试 built-in test (BIT),系统或设备内部提供的故障检测和隔离的自动测试能力,3. 1.13 模糊组 ambiguity group,具有相同或类似的故障特征，在故障隔离中无法(或不能)分清故障真实部位的一组可更换单元。模,糊组中的每个可更换单元都可能有故障,3. L 14 模糊度 ambiguity group size,表示模糊组中包含的可更换单元数,3. 1. 15 故障检测率 fault detection rate (FDR),等于用规定的方法正确检测到的故障数与故障总数之比，用百分数表示,3. L 16 故障隔离率 fault isolation rate (FIR),等于用规定的方法将检测到的故障正确隔离到不大于规定模糊度的故障数与检测到的故障数之比,用百分数表示,3.2缩略语,ATE------自动测试设备(Automatic Test Equipment)；,ATS------自动测试系统(Automatic Test System)；,BIT——机内测试(Built-In Test)；,FDR------故障检测率(Fault Detection Rate)；,FIR----- 故障隔离率(Fault Isolation Rate)；,ID------ 接 口 装置(Interface Device)；,ITA----- 接 口 测试适配器(Interface Test Adapter)；,GPI-----通用接口(General Purpose Interface)；,MTBF----- 平均故障间隔时间(Mean Time Between Failures)；,MTTR------平均修复时间(Mean Time to Repair)；,RFX----- 接收器/夹具接口 (Receiver/Fixture Interface)；,TAR……
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